В России начнут проверять надёжность микросхем с помощью математики

Минпромторг России поручил создать специальный математический метод для оценки надёжности электронных компонентов. Этот метод поможет сэкономить время и деньги при оценке надёжности электроники. В будущем этот подход будет использоваться российскими разработчиками и производителями интегральных микросхем и полупроводниковых устройств.

В России разрабатывается новый способ оценки надёжности интегральных микросхем и полупроводниковых приборов с помощью математического прогнозирования. Для этой цели выделены 464,8 млн рублей. Цель разработки заключается в сокращении времени и ресурсов, затрачиваемых на оценку надёжности электронных компонентов. Это важно для обеспечения независимости России в технологическом и импортозамещении.

Результаты этой работы будут использоваться при испытаниях новых и уже производимых изделий микроэлектроники и полупроводниковой техники. Надёжность электронных компонентов также критически важна для безопасного функционирования беспилотных транспортных средств и доступности объектов критической информационной инфраструктуры. Эта задача особенно актуальна в условиях напряжённых политических и экономических отношений с некоторыми странами.