Нанотехнологии - в жизнь: 1000 трехмерных карт Земли в крупинке соли
Ученые корпорации IBM создали трехмерную карту Земли, причем, такую миниатюрную, что 1000 этих карт может поместиться в крупинке соли. Этого удалось достичь с помощью новой методики, использующей миниатюрный кремниевый щуп длиной 500 нанометров с острым наконечником-иглой, который в 100 000 раз меньше заточенного карандаша. Такой щуп применялся для создания шаблонов изображений и структур масштаба 15 нанометров. Игла щупа, схожая с теми, которые используются в атомно-силовых микроскопах, прикрепляется к гибкому кронштейну, который в управляемом режиме сканирует поверхность вещества подложки с точностью одного нанометра - одной миллионной миллиметра. При нагревании или приложении внешней силы наноразмерная игла может "снимать" (удалять) слои вещества подложки по предварительно заданным шаблонам, работая как "нанофрезерный" станок сверхвысокой точности.
/imgs/2024/05/21/09/6474395/27cd327d0482c8bad97e52b076bc400497af7121.jpg)
IBM
По мнению IBM, такой метод может с успехом применяться при производстве микросхем и электронной аппаратуры, а также в сферах медицины, бионаук и оптоэлектроники. Для демонстрации этой технологии было создано несколько трехмерных и двухмерных изображений с использованием для каждого из них разных веществ:
- 25-нанометровая трехмерная копия, которая изображает в масштабе 1:5 млрд. знаменитую гору Маттерхорн в Альпах высотой 4478 метров - в молекулярном стекле.
- Полная трехмерная карта мира размером всего 22 на 11 микрон - на полимере. На этой миниатюрной карте высотная отметка в тысячу метров соответствуют приблизительно восьми нанометрам. Изображение сформировано из 500 000 пикселей, площадь каждого пикселя составляет 20 квадратных нанометров. Карта была создана всего за 2 минуты и 23 секунды.
- Двухмерное наноразмерное изображение логотипа IBM было "протравлено" в кристалле кремния на глубину 400 нанометров. Этот пример демонстрирует жизнеспособность метода для типовых нанопроизводственных процессов.
- Двухмерное изображение с высоким разрешением сплошной линии толщиной 15 нанометров.