Новый метод позволит обнаруживать мельчайшие дефекты в материалах

Ученые разработали новый метод визуализации микроструктур в наномасштабе с использованием рентгеновских микроскопов. Этот подход позволяет обнаруживать малейшие трещины и включения, которые ранее были трудны для визуализации. Особенно в материаловедении и контроле качества такое развитие будет иметь важное значение.