Ученые нашли способ быстрого измерения температуры внутри электроники

Японские ученые предложили использовать нейтронный резонансный захват (НРЗ) для измерения температуры. Этот метод позволяет анализировать свойства материала, изучая поглощение нейтронов атомными ядрами на определенных энергетических уровнях.

В исследовании нейтроны генерировались мощными лазерными установками. Затем их замедляли до очень низких энергий и пропускали через образцы материалов — пластины из тантала и серебра. Метод успешно определил состав материалов и их температуру с невероятной скоростью.

Изменение временного сигнала НРЗ позволило ученым определить температуру образцов. Новая технология обеспечивает мгновенное и точное измерение температуры, поскольку метод неразрушающий, его можно применять для мониторинга аккумуляторов, полупроводников и других электронных устройств, отмечают ученые.

Благодаря использованию одиночного импульса нейтронов, измерение температуры методом НРЗ занимает всего 100 наносекунд (. Эта почти мгновенная скорость позволяет отслеживать изменения температуры практически в режиме реального времени, обеспечивая детальный анализ.